貴金屬檢測儀

貴金屬檢測儀原理：

由高能X射線激發原子電子層，使得原子核外電子發生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統測量這些能量和數量，從而計算元素含量。

主要組成部件：

高壓-光管-探測器與前放-主放-DPP-控制模

塊-通信模塊-顯示系統等

對貴金屬進行分析和克拉級別鑒定

目前使用XRF分析儀對貴金屬進行化學成份分析及純度成色判斷已經成為一種廣泛應用、極受歡迎，并且有國家標準的支持，且性能可靠的方法。與火花試金法和化學試劑測試法相比，使用XRF對貴金屬進行分析是一種更迅速、更經濟的多元素檢測方法。

優勢和特點：

。超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面

。易于使用，一鍵操作，即可獲得克拉等級及組成成份的分析結果

。有助于識別鍍金樣件的創新型功能

。機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室

貴金屬檢測儀硬件性能及優勢：

超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作

超快檢測速度、超人性化界面

超清攝像頭

光管電壓5KV - 50KV

高壓電源0 ~ 50KV Spellman(USA)

光管管流0μA~ 1000μA

濾光片可選擇多種定制切換

探測器Si-pin

分辦率Si-pin160土5eV

多道分析器JPSPEC-DPP

樣品腔尺寸310*280*